IEEE design & test
Τίτλος | IEEE design & test. |
Συντομογραφία | IEEE des. test (Print) |
ISSN | 2168-2356 |
Έτη έκδοσης | 2013- |
Γλώσσα | Αγγλική |
Χώρα | Ηνωμένες Πολιτείες Αμερικής |
Συνεχίζει | IEEE design & test of computers (Print) [ISSN 0740-7475] |
Άλλη έκδοση σε διαφορετικό μέσο | IEEE design & test (Online) [ISSN 2168-2364] |
Ηλεκτρονική Τοποθεσία | http://ieeexplore.ieee.org/servlet/o(...) |
Τίτλος | IEEE design & test. |
Τίτλος κλειδί | IEEE design & test (Print) |
Συντομογραφία | IEEE des. test (Print) |
ISSN | 2168-2356 |
Έτη έκδοσης | 2013- |
Δημοσίευση | New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Αρίθμηση περιοδικής έκδοσης | Began with: |
Γλώσσα | Αγγλική |
Χώρα | Ηνωμένες Πολιτείες Αμερικής |
Συνεχίζει | IEEE design & test of computers (Print) [ISSN 0740-7475] |
Άλλη έκδοση σε διαφορετικό μέσο | IEEE design & test (Online) [ISSN 2168-2364] |
DDC Ταξινόμηση | 621.39 (23) |
Ηλεκτρονική Τοποθεσία | http://ieeexplore.ieee.org/servlet/o(...) |